近日我司天津见合八方正式推出O波段可调光源整体解决方案。该方案基于我司宽谱偏振无关 SOA 与光纤环形腔技术可覆盖 1260~1360nm 内任意波长波长最小间隔达10pm具备宽调谐、高功率稳定度、消偏振、低相干等特性可广泛应用于硅光芯片、滤波器、波分复用器、光放大器等各类光器件测试。我司天津见合八方既可对外提供核心光器件包括各波段宽谱偏振无关SOA可调激光器、SOA驱动等核心器件和完整的技术方案支持也可提供整机成品。一、方案介绍见合八方 O 波段可调光源基于双 SOA 光纤环形腔架构设计在保证宽光谱覆盖的同时实现了优异的功率稳定性和波长精度。整体光路采用光纤环形腔结构如图1所示以两颗偏振无关 SOA 作为增益介质配合可调谐滤波器实现波长选择再通过 VOA 可调光衰与 OPM 光功率计构成的闭环回路完成输出功率的精准锁定。核心光路组成增益单元(SOA)一颗 1310nm 偏振无关 SOA位于环形腔内用于承担腔内增益功能补偿滤波器、隔离器以及光纤损耗并提供增益以确保激光输出功率提升单元(SOA)提升光功率并通过SOA的饱和特性实现噪声抑制功能。可调谐滤波器(TF)作为选频元件精确控制环形腔的激射波长实现 1260~1360nm 连续调谐。可调光衰减器单元(VOA)可调光衰配合分光探测器实时反馈动态调节确保输出功率稳定可控。光隔离器(Isolator)与耦合器(Splitter)保障光路单向传输与功率分配维持环形腔稳定工作。光功率监测单元(OPM)可选单元可配合光源一起实现各种扫描谱测试包括透射谱/反射谱/增益谱。二、核心技术亮点1. 100nm 超宽调谐范围覆盖 1260~1360nm 完整 O 波段波长最小间隔 10pm满足各类光器件的全波段测试需求。无论是波分复用器的通道响应测试还是硅光芯片的光谱特性表征。2. 双 SOA 环形腔设计双SOA光纤环形腔结构有效提升了输出光功率并抑制了噪声。与传统单 SOA 方案相比双 SOA 架构实现了更高以及更稳定的输出功率。3.自动恒功率控制采用VOA和分光探测单元通过实时闭环控制实现功率精准锁定。4.上位机软件智能控制配套 PC 端上位机软件操作界面直观易用支持单点波长输出与自动扫描两种工作模式。软件内置光功率检测与波长扫描功能方便后续数据分析与报告生成。三、光源特性测试结果为验证产品性能我们对 JHBF-O 波段可调激光器进行了全面的性能测试涵盖功率调谐范围、光谱特性、波长扫描平坦度、长期稳定性等关键指标。1. 功率调谐范围测试测试结果表明在 1260~1360nm 全波段范围内输出功率均可实现从 - 30dBm 至 9dBm 的连续可调部分波长点最高可达 10dBm满足各类测试场景的功率需求。2. 光谱测试在设定输出功率 5dBm 条件下我们对全波段多个典型波长点进行了光谱测试。测试结果显示各波长点 3dB 带宽均控制在 0.06~0.1nm 范围内谱线质量优异边模抑制比55dB。全波段各波长点光谱特性一致1260nm 至 1360nm 范围内 3dB 带宽均保持在 0.06~0.1nm。3.波长扫描测试测试结果显示在 1280~1340nm 核心波段输出功率平坦度表现优异全波段范围内功率变化趋势符合预期。4. 10小时长期功率稳定性测试10 小时连续运行下输出功率波动控制在 ±0.02dB 以内展现出优异的长期稳定性完全满足科研实验和生产线长时间测试的需求。四、应用场景O波段作为光通信和光传感的重要波段在数据中心、5G 前传、光纤传感等领域有着广泛应用。一款性能优异的可调光源是光器件研发、生产和质检环节不可或缺的测试工具。场景一光无源器件测试在波分复用器WDM、阵列波导光栅AWG、薄膜滤波器TFF等无源器件的研发与生产中需要精确测量器件的插入损耗、波长响应、通道隔离度等关键参数。传统测试方案往往需要多台设备组合搭建复杂且成本高昂。此O 波段可调光源集成了光源、光功率计于一体配合自动扫描功能可快速完成全波段插损测试大幅提升测试效率。对于硅光芯片这类集成度高、对测试精度要求严苛的器件本产品的高波长精度和低相干特性尤为重要能够准确表征芯片的光谱响应特性。场景二光有源器件测试 ——SOA 增益谱测试在半导体光放大器SOA、光探测器PD、光调制器等有源器件的测试中可调光源同样扮演着重要角色。SOA 增益谱测试是 SOA 器件研发和生产中的核心测试项目。以下测试均以本款 O 波段可调谐激光器作为输入激励光源配合我司自研 1310nm 蝶形封装 SOA 完成可提供光源与光放大一体化成套解决方案。整体来看SOA 在 1260~1360nm 全 O 波段均可稳定输出有效增益1260~1320nm 核心波段增益区间可达 10~21dB具备优秀的宽带光放大能力。对于光探测器的响应度测试本产品的功率可调和高稳定度特性能够精确控制入射光功率确保测试结果的准确性和可重复性。场景三镀膜特性分析光学薄膜的性能直接影响光器件的质量而镀膜特性的测试分析离不开宽光谱光源。无论是增透膜、高反膜还是滤光膜都需要在宽波段范围内测量其透射率或反射率。见合八方 O 波段可调光源配合功率计可快速扫描镀膜样品的光谱特性为镀膜工艺优化提供数据支撑。目前见合八方还可提供 OC 双波段 200nm 宽调谐光源方案满足更多波段的测试需求。